Цахиурын давхар исэл

Цахиурын давхар исэл
	; Цэвэр цахиурын давхар исэл
Нэр
	IUPAC нэр Silicon dioxide
	Өөр нэр Quartz; Silica; Silicic oxide; Silicon(IV) oxide; Crystalline silica
Ерөнхий
CAS бүртгэлийн дугаар	7631-86-9
ChEBI	CHEBI:30563
ChemSpider	22683
ЕХ дугаар	231-545-4
Gmelin	200274
Jmol-3D зураг	Зураг
KEGG	C16459
MeSH	Silicon+dioxide
PubChem	24261
RTECS дугаар	VV7565000
UNII	ETJ7Z6XBU4
	InChI InChI=1S/O2Si/c1-3-2 ; Key: VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N ;
	SMILES O=[Si]=O;
Шинж чанар
Химийн томъёо	SiO2
Моль масс	60.08 g/mol
Гадаад байдал	Transparent crystals
Нягт	2.648 (α-quartz), 2.196 (amorphous) g·cm−3
Хайлах температур	1,713 °C (3,115 °F; 1,986 K) (amorphous) to
Буцлах температур	2,950 °C (5,340 °F; 3,220 K)
Дулаан дамжуулалт	12 (\|\| c-axis), 6.8 (⊥ c-axis), 1.4 (am.) W/(m⋅K)
Хугалах илтгэгч (nD)	1.544 (o), 1.553 (e)
Аюултай нөхцөл
NFPA 704	0 0 0
	АНУ-ын зөвшөөрөгдсөн дээд хэмжээ (NIOSH):
PEL (Зөвшөөрөгдөх)	TWA 20 mppcf (80 mg/m3/%SiO2) (аморф)
REL (Зөвлөсөн)	TWA 6 mg/m3 (аморф); Ca TWA 0.05 mg/m3
IDLH (Аюултай хэмжээ	3000 mg/m3 (аморф); Ca [25 mg/m3 (кристобалит, тридимит); 50 mg/m3 (кварц)]
Хамааралтай нэгдлүүд
Хамааралтай: давхар исэлүүд	Нүүрстөрөгчийн давхар исэл; Германийн давхар исэл; Цагаан тугалганы давхар исэл; Хар тугалганы давхар исэл
Бусад	Цахиурын исэл; Цахиурын сульфид
Термохими
Ердийн моляр энтроп (So298)	42 J·mol−1·K−1
Үүсэлтийн ердийн энтальп (ΔfHo298)	−911 kJ·mol−1
	Өөрөөр тодотгож заагаагүй бол бодисуудын хэвийн төлөв (25 °C [77 °F], 100 kPa) дахь үзүүлэлтүүд.
	шалгах (what is: /?)
	Мэдээлэлийн хайрцагны эх сурвалж

Цахиурын исэл (SiO₂) нь хамгийн тогтвортой элемент боловч HF-тай урвалд ордог.

Эх сурвалж засварлах

↑ ^1.0 ^1.1 ^1.2 ^1.3 ^1.4 Загвар:RubberBible92nd
↑ ^2.0 ^2.1 ^2.2 "NIOSH Pocket Guide to Chemical Hazards #0552". National Institute for Occupational Safety and Health (NIOSH).
↑ ^3.0 ^3.1 "NIOSH Pocket Guide to Chemical Hazards #0682". National Institute for Occupational Safety and Health (NIOSH).
↑ ^4.0 ^4.1 Zumdahl, Steven S. (2009). Chemical Principles 6th Ed. Houghton Mifflin Company. p. A22. ISBN 0-618-94690-X.

Цахим холбоос засварлах

Tridymite, International Chemical Safety Card 0807
Quartz, International Chemical Safety Card 0808
Cristobalite, International Chemical Safety Card 0809
amorphous, NIOSH Pocket Guide to Chemical Hazards
crystalline, as respirable dust, NIOSH Pocket Guide to Chemical Hazards
Formation of silicon oxide layers in the semiconductor industry. LPCVD and PECVD method in comparison. Stress prevention.
Quartz SiO₂ piezoelectric properties
Silica (SiO₂) and Water
Epidemiological evidence on the carcinogenicity of silica: factors in scientific judgement by C. Soutar and others. Institute of Occupational Medicine Research Report TM/97/09
Scientific opinion on the health effects of airborne silica by A Pilkington and others. Institute of Occupational Medicine Research Report TM/95/08
The toxic effects of silica by A Seaton and others. Institute of Occupational Medicine Research Report TM/87/13
Structure of precipitated silica

Агуулах дахь «[[commons:Category:Silicon dioxide|
Unexpected use of template {{1}} - see Template:1 for details.]]» зургийн цомог

Chisholm, Hugh, ed. (1911), "Silica", Encyclopædia Britannica (11th ed.), Cambridge University Press

Загвар:Цахиурын эрдсүүд Загвар:Ислүүд Загвар:Цахиурын нэгдлүүд

[b92-1] 1.0 ^1.1 ^1.2 ^1.3 ^1.4 Загвар:RubberBible92nd

[PGCH0552-2] 2.0 ^2.1 ^2.2 "NIOSH Pocket Guide to Chemical Hazards #0552". National Institute for Occupational Safety and Health (NIOSH).

[PGCH0682-3] 3.0 ^3.1 "NIOSH Pocket Guide to Chemical Hazards #0682". National Institute for Occupational Safety and Health (NIOSH).

[b1-4] 4.0 ^4.1 Zumdahl, Steven S. (2009). Chemical Principles 6th Ed. Houghton Mifflin Company. p. A22. ISBN 0-618-94690-X.

[1]

[2]

[3]

[4]

Нэр
Цэвэр цахиурын давхар исэл
IUPAC нэр Silicon dioxide
Өөр нэр Quartz Silica Silicic oxide Silicon(IV) oxide Crystalline silica
Ерөнхий
CAS бүртгэлийн дугаар	7631-86-9^Y
ChEBI	CHEBI:30563^Y
ChemSpider	22683^Y
ЕХ дугаар	231-545-4
Gmelin	200274
Jmol-3D зураг	Зураг
KEGG	C16459^N
MeSH	Silicon+dioxide
PubChem	24261
RTECS дугаар	VV7565000
UNII	ETJ7Z6XBU4^Y
InChI InChI=1S/O2Si/c1-3-2^Y Key: VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N^Y
SMILES O=[Si]=O
Шинж чанар
Химийн томъёо	SiO₂
Моль масс	60.08 g/mol
Гадаад байдал	Transparent crystals
Нягт	2.648 (α-quartz), 2.196 (amorphous) g·cm⁻³^[1]
Хайлах температур	1,713 °C (3,115 °F; 1,986 K) (amorphous)^[1]^(p4.88) to
Буцлах температур	2,950 °C (5,340 °F; 3,220 K)^[1]
Дулаан дамжуулалт	12 (\|\| c-axis), 6.8 (⊥ c-axis), 1.4 (am.) W/(m⋅K)^[1]^(p12.213)
Хугалах илтгэгч (n_D)	1.544 (o), 1.553 (e)^[1]^(p4.143)
Аюултай нөхцөл
NFPA 704	0 0 0
АНУ-ын зөвшөөрөгдсөн дээд хэмжээ (NIOSH):
PEL (Зөвшөөрөгдөх)	TWA 20 mppcf (80 mg/m³/%SiO₂) (аморф)^[2]
REL (Зөвлөсөн)	TWA 6 mg/m³ (аморф)^[2] Ca TWA 0.05 mg/m³^[3]
IDLH (Аюултай хэмжээ	3000 mg/m³ (аморф)^[2] Ca [25 mg/m³ (кристобалит, тридимит); 50 mg/m³ (кварц)]^[3]
Хамааралтай нэгдлүүд
Хамааралтай: давхар исэлүүд	Нүүрстөрөгчийн давхар исэл Германийн давхар исэл Цагаан тугалганы давхар исэл Хар тугалганы давхар исэл
Бусад	Цахиурын исэл Цахиурын сульфид
Термохими
Ердийн моляр энтроп (S^o₂₉₈)	42 J·mol⁻¹·K⁻¹^[4]
Үүсэлтийн ердийн энтальп (Δ_fH^o₂₉₈)	−911 kJ·mol⁻¹^[4]
Өөрөөр тодотгож заагаагүй бол бодисуудын хэвийн төлөв (25 °C [77 °F], 100 kPa) дахь үзүүлэлтүүд.
N шалгах (what is: Y/N?)
Мэдээлэлийн хайрцагны эх сурвалж